FEI/赛默飞 品牌
生产厂家厂商性质
上海市所在地
最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM
选择高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将 (S)/TEM 成像及能量分辨率相结合。
Thermo Scientific Velox 软件可实现对多模式数据的快速、轻松的采集和分析。
快速、精确的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示纳米级细节,同时保持高洁净度。
为动态实验添加特定用途的原位样品杆。
所有日常 TEM 调整、例如聚焦、共心高度、电子束移位、冷凝器光阑、电子束倾斜枢轴点和旋转中心都是自动进行的,确保您始终从最佳成像条件开始工作。实验可以能够再现的方式重复进行,从而使您能够专注于研究而非仪器操作。
高通量 STEM 成像采用同步多信号检测,可为高质量图像提供更高的对比度。
通过创新且直观的 Velox 软件用户界面采集高质量的 TEM 或 STEM 图像。Velox 软件中的 EDS 吸收校正功能可实现极准确的定量。
超稳定的色谱柱、借助 SmartCam 的远程操作和恒定功率物镜,可进行快速模式和高电压 (HT) 切换。多用户环境的快速轻松切换。
性能数据
HRTEM 线分辨率 |
|
STEM 分辨率 |
|
Super-X EDS 系统 |
|
电子能量损失光谱 (EELS) 能量分辨率 |
|
200 kV 下的枪亮度 |
|