详细介绍

300KV透射电镜Spectra 300 TEM

Spectra 300 (S)TEM可配置高能量分辨率电子源

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还可配置超高亮度X-CFEG光源提供最高分辨率的STEM成像性能

Panther STEM探头系统具有的灵敏度

先进的STEM成像能力

Spectra 300 (S)TEM灵活的能谱配置

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Spectra 300 (S)TEM的原位功能

图像矫正器	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：60 pm STEM 分辨率：136 pm
探针矫正器：	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：100 pm STEM 分辨率：50 pm（30 kV 下 125 pm）
未校正	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：100 pm STEM分辨率：136 pm
X-FEG/单色器双校正（探针+图像矫正器）	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：60 pm STEM分辨率：50 pm（30 kV 下 125 pm）
X-CFEG 双校正（探针+图像校正）	能量散布：0.4 eV 信息限制：70 pm STEM分辨率：50 pm（30 kV 下 136 pm）
离子源	X-FEG Mono：高亮度肖特基场发射枪和单色器，可调谐能量分辨率范围为 1-<0.2 eV X-FEG UltiMono：高亮度肖特基场发射枪，配备超稳定单色器和加速电压，可调谐能量分辨率范围为 1eV-<0.03eV X-CFEG：固有能量分辨率<0.4 eV 的超高亮度 30 – 300 kV 的灵活高张力范围