FEI/赛默飞 品牌
生产厂家厂商性质
上海市所在地
主要特点
选择 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将 (S)/TEM 成像及能量分辨率相结合。
从单个 30 mm² 检测器到用于高通量(或低剂量)分析的双 100 mm² 检测器中,选择您需求的 EDS 检测器。
创新且直观的 Velox 软件用户界面非常简单,从而轻松获得高质量的 TEM 或 STEM 图像。Velox 软件中的 EDS 吸收校正功能可实现最准确的定量。
添加断层扫描或原位样品架。快速摄像机、智能软件和我们的宽 X-TWIN 物镜间隙可在尽可能不降低分辨率和分析功能的情况下实现 3D 成像和原位采集。
超稳定的色谱柱、借助 SmartCam 的远程操作和恒定功率物镜,可进行快速模式和高电压 (HT) 切换。多用户环境的快速轻松切换。
所有日常 TEM 调整、例如聚焦、共心高度、电子束移位、冷凝器光阑、电子束倾斜枢轴点和旋转中心都是自动进行的,确保您始终从最佳成像条件开始工作。实验可重现,使您可以专注于研究,而不是工具。
4k × 4k Ceta CMOS 摄像机及其大视野使得可以在整个高张力范围内以高灵敏度和高速进行实时数字缩放。
更小的占地面积和尺寸有助于在更具挑战性的空间中使用此工具,同时降低基础设施和支持成本。
TEM |
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操作 系统XX 单元 |
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真空系统 |
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STEM 成像 |
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能量色散 X 射线光谱 (EDS) |
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电子能量损失光谱 (EELS) |
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枪亮度 200 kV |
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